「JPCA Show 2012」に出展します

掲載日：2012年6月1日

弊社は6月13日・14日・15日に開催される「JPCAショー」に於きまして半導体パッケージング・部品内蔵技術展エリアに出展いたします。
同展においては検査データ作成から、電気検査及び画像検査、更にはリペア解析までトータルソリューションを提案させていただくと共に合わせて基板検査に有用な各種計測器の展示もさせて頂きます。是非ともご来場賜りますようご案内申しあげます。

HIOKIは東6ホール　小間　No.6E-43に出展しています。
併設展、
「JPCA Show 2012」
●2012プリント配線板技術展　PWB Tech 2012
●2012機器・半導体受託生産システム展 EMS Japan 2012

「ラージエレクトロニクスショー2012」
●2012プリンテッドエレクトロニクス最適生産システム展　PE PROCESS 2012
●2012 LED/OLED応用技術展 Solid-State Lighting 2012
●2012部品・MEMS/デバイス産業総合資機材展 Device Engineering 2012
●2012マイクロエレクトロニクスショー
●JISSO PROTEC 2012

上記、各併設展の信頼性・検査技術に関する製品展示もおこないます。 トータルソリューションのご提案をさせて頂きますので是非ご来場ください。
http://www.jpcashow.com/show2012/index.html
●NPIプレゼンテーション：6月13日（水）　D会場
　12：50～13：20『 「見えない、触れない」基板の検査 ～部品内蔵基板検査は第2ステージへ～ 』
●オープンセミナ ：6月15日（金）　東5ホール会場
　15：00～16：00 『部品内蔵基板の検査とCADツールの連携』

※NPIプレゼンテーションの聴講のお申し込みは弊社ホームページ-お問い合わせ-製品のお問いあわせ　より JPCA2012 NPIプレゼンテーションの聴講希望　としてお申し込みください。
主な出展製品：
計測のHIOKIから高機能・高信頼性をご提案します！
●プリント基板最終外観検査装置FE1706
　高精度と生産性を両立、高解像度で、BGA搭載パッドの微細な不良も検出。
●データ編集装置
　実装基板、ベアボードのデータ編集及び作成用のツールのご紹介。
●テストヘッド1165
　4端子測定、ファインピッチ検査治具の展示。
●部品内蔵基板、パッケージ基板各種検査装置（動画展示）
　部品内蔵検査装置：1281、1232、パッケージ基板検査装置：1231
取り扱い製品
　ベアボード検査装置,実装基板検査装置,画像検査装置、データ編集機及びデータ作成機、データロガー、LCRメータ、超絶縁試験器
上記以外にも多数製品を展示しております。
皆様のご来場を心よりお待ちしております