超絶縁計SM7810を発売

掲載日：2011年3月9日

積層セラミックコンデンサの検査を大幅効率化

　HIOKI（日置電機株式会社：長野県上田市、代表取締役社長：吉池達悦）はこのたび、超絶縁計SM7810を発売いたします。SM7810は、携帯電話などの電子機器に搭載される積層セラミックコンデンサの検査に最適の計測器です。従来機2倍の8チャネルの測定が可能になり、業界最速の6.8ms（6.8/1000秒）の高速測定もできますので、生産ラインの検査が大幅に効率化できます。

■積層セラミックコンデンサとは
　積層セラミックコンデンサ（MLCC）とは、電極を形成した薄いセラミックシートを数百層積み重ねた構造になっていて、電圧をかけると、電荷を蓄えます。従来、セラミックコンデンサは低容量品でしたが、積層技術により高容量化も可能となっています。現在では、携帯電話やパソコン、液晶テレビなどで1台につき数百個から一千個のMLCCが搭載されています。

■SM7810の特長
1.測定時間は業界最速の6.8msに改善し、検査スピードがアップ
SM7810は、MLCCの生産ラインにおける漏れ電流検査時間を従来比30%短縮し、業界最速の6.8msで行ないます。この検査時間はコンタクトチェックと良否判定までも含んだ時間です。検査スピードを上げたことで、検査時間が大幅に短縮でき、効率が高まります。

2.8チャネルの同時測定により、検査時間とスペースの効率化が進展
従来機では4チャネルの搭載でしたが、SM7810では8チャネルを搭載しています。これにより、一度に検査できるMLCCの個数が増えますので、検査効率が高まります。さらに、少ない設置台数で検査できますので、MLCCを選別する自動機内に設置する際のスペースも小さくて済みます。

3.大電流レンジ（1mA）の使用で、高容量MLCCも高速に良否判定
1mAの大電流レンジを用意したことで、高容量のMLCCを高速に良否判定できるようになりました。

4.コンタクトチェックで信頼性向上
高速測定でコンタクトチェックもできますので、測定プローブの接触不良による誤判定を防止できます。これにより、検査の信頼性が高まります。

■仕様
基本仕様
チャネル数 8ch
測定範囲 電流1pA～1mA、抵抗：1102Ω～11015Ω
測定時間 最速6.8ms
測定電圧設定 0.1V～1000.0V（分解能0.1V）
外形寸法 約425W 99H 488D mm
質量 約10.5kg

■価格
SM7810：　￥1,200,000　（税込￥1,260,000）

■年間目標販売台数
100台

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