資料ダウンロード
カタログ、技術資料、アプリケーションなどの資料はこちら。会員登録するとより自由にダウンロードいただけます。
サポート情報
会員サービスやセミナー、FAQなどのお客様のお役に立つ情報をまとめています。
購入・レンタル
購入・レンタル・見積もりのご案内です。
購入時のご注意事項
アフターサービス
製品をご購入後のお客様にむけて、アフターサービスと製品の保証に関する情報をご紹介します。
企業情報
HIOKIは世界に向けて計測の先進技術を提供する計測器メーカーです。
サステナビリティ
すべてのステークホルダーの皆さまとともに発展していくための、様々な取り組みをご紹介します。
IR情報
株式情報、財務・経営情報を掲載しています。
採用情報
新卒・キャリア採用についてはこちらをご覧ください。
お問い合わせ
お知らせ情報
開催日時 2017年4月19日 ~ 2017年4月21日
お客様各位
2017年4月19日(水)からの3日間、パシフィコ横浜で「 レーザーEXPO 」が開催されます。
今回は世界初の「分離重心波長方式」を採用したレーザ光専用測定器TM6102を
展示させていただきます。
国際会議OPIC2017においても「分離重心波長方式」の論文発表を予定しておりますので
是非とも弊社ブースにお立ち寄りいただけるようお願いいたします。
会期:4/19-4/21
会場:パシフィコ横浜 N-13
展示会:OPIE’17 レーザーEXPO
出展製品:
・RGBレーザ測定器 (国際会議OPICにて論文発表予定)
世界初の「分離重心波長方式」を採用したレーザ光専用測定器
ホワイトバランスナビゲーションシステムで調整工数をゼロに
・光パワーメータ 3664
光ディスク用のLD検査に最適なハンディ光パワーメータ
皆様のご来場を心よりお待ちしております。
OPIE製品説明ページ