OPIE’17 レーザーEXPO in 横浜

OPIE’17 レーザーEXPO in 横浜

2017年04月19日 ~ 2017年04月21日


お客様各位

   

2017419日(水)からの3日間、パシフィコ横浜で「 レーザーEXPO 」が開催されます。

   
今回は世界初の「分離重心波長方式」を採用したレーザ光専用測定器TM6102

展示させていただきます。

   

国際会議OPIC2017においても「分離重心波長方式」の論文発表を予定しておりますので

是非とも弊社ブースにお立ち寄りいただけるようお願いいたします。

    

会期:4/19-4/21

会場:パシフィコ横浜 N-13

展示会:OPIE’17  レーザーEXPO

出展製品:

 ・RGBレーザ測定器 (国際会議OPICにて論文発表予定)
 世界初の「分離重心波長方式」を採用したレーザ光専用測定器
 ホワイトバランスナビゲーションシステムで調整工数をゼロに



 ・光パワーメータ 3664
 光ディスク用のLD検査に最適なハンディ光パワーメータ



皆様のご来場を心よりお待ちしております。 

OPIE製品説明ページ

https://www.opie.jp/list/info.php?id=494&ex=


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