5Gなどに代表される次世代通信規格の普及やV2X（Vehicle to Everything）といった車両間通信、あるいは遠隔医療など、無線通信で扱うデータ量は増加が予想されます。ケーブルによる信号伝送では大量のデータを高速に伝送する際に損失や遅延時間が発生してしまうと懸念されています。そこで、PD（フォトダイオード）、APD（アバランシェフォトダイオード）といった光電特性をもつ半導体を受光素子として用いた光通信が注目されています。

課題

PDやAPDの主要な電気特性のひとつであるI-V特性は、直流電圧源と微小電流計を用いた計測が一般的な方法です。しかし、この２種類の使い分けが煩わしいだけでなく、機器間の配線が複雑になるため、ノイズの影響により測定精度が低くなる場合があります。

解決策

絶縁計SM7110は0.1V～1000Vの広い範囲で直流電圧を制御できる直流電源と、最小20pAレンジ（分解能0.1fA）の微小電流計を有した計測器であり、直流電圧を変化させながらの微小電流を同期計測が実現できます。HIOKI Webサイトで公開している無償ソフトウェア「SM7000シリーズサンプルアプリケーション（SM7110, SM7120, SM7420）」を使用すれば、測定結果のグラフ化も容易です。

実測データ

光通信用PDのI-V特性例

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SM7110による光通信用フォトダイオードのI-V特性評価

市場の動き

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