フライングプローブテスタ
FA1283

高機能基板の電気検査は、この1 台で完結する。Max. 100 points/sec. の高速検査

● スクエア15μm高精度コンタクトと高速プロービングを実現 ● Max.100points/secの高速検査 ● 一般ベアボードからフレキ基板、CSPなどの微細、高密度基板まで検査可能 ● 静電容量測定に加え、ダイオードなど部品内蔵基板用の計測機能も充実

高機能ベアボードの電気検査はこの1台で完結する

次世代を狙う最新のベアボードを検査するための機能を集約した1台 精度、スピード、打痕、計測 全てのスペックを追求したフラッグシップフライングプローブテスタ

1μmを追求する

総合プロービング精度 □15μm(FA1971-01実装時) φ10μmコンタクトを目指した高精度フライングプロービングテスタ

1秒も無駄にしない

1枚目の検査をスムーズに立ち上げ、工数を使わずに検査が終了する事はとても重要です。 現場の環境に合わせた最適な組合せにより、検査工数の削減を実現します。 ●テンション機構付きクランプ ●基板の反りや「うねり」を測定し、安定したコンタクトを実現するレーザ基板厚補正ユニット ●クランプできない基板を検査するための静電容量測定用吸着ステージ(オプション) ●オフラインモデルと自動搬送モデルの選択が可能 ●複雑な設計でも正確にデータを供給するFEB-LINE検査データ作成システム UA1781

測定を極める

単純な導通絶縁検査から、LSI検査用の高機能測定まで1台に集約 90万種類の検査を一つの検査データに持たせる事ができるフレキシブルデータ構造のため、導通・絶縁の判定基準の変更だけでなく、4端子計測、部品計測など1本の検査データに全ての検査を含める事が可能です。

高速O/S検査には静電容量プレートをご用意

「電気検査無しに出荷はしない」 基板形状に影響されない静電容量方式O/S 検査を行うためのバキューム吸着ステージ E4001 高速検査基板外形や基板厚に左右されない安定した検査が可能です。検査順(アーム移動距離)の最適化により抵抗検査よりも短時間で検査が終了します。

絶縁検査の品質を向上する

マイクロショートの焼損や検査中のARCなど、検査機の絶縁検査能力はそのまま製品の品質に直結します。 絶縁検査は 100GΩ/10msec の超高速絶縁検査を搭載。 さらにマイクロショート検出をはじめ、ARC検出、両極性検査、インパルス検査など絶縁品質を高いレベルで保証する数々の機能を搭載しています。

導通検査、抵抗測定を極める

4端子低抵抗測定、200 mA導通検査、容量測定O/S検査など、多種のモードから選択可能です。 オープンビアなどによる配線抵抗の上昇を検出するには4端子測定を、最大200 mAの大電流導通検査は実動作に近い環境での保証にお使いいただけます。 抵抗測定は0.1Vの低電圧測定から、ITOなどの抵抗率の高い素材向けの高電圧抵抗測定など、「計測のHIOKI」だからできる測定モードを多数搭載しました。

LCR測定とは一線を画す「内蔵部品測定」

実装基板検査で培った部品計測のノウハウを投入した次世代のベアボード検査装置です。 MLCC計測などの基本的な部品計測に加え、複合回路を測定するガーディング機能、位相分離計測などインサーキットテスタを超える測定機能を搭載しました。 また、LSIの信頼性検査のために、「消費電流検査」「漏れ電流検査」など専用モードを実装。 LCRメータとは違う部品内蔵基板の検査をするための最新機能を搭載しています。

プローブラインナップ

検査基板に合わせて豊富なバリエーションから選択が可能です。 プローブや打痕の疑問は、全国のプローブマイスターが直接相談させていただきます。

FA1116の検査スピードを両面機は超える事は可能か?

片面吸着式静電容量測定のFA1116は、1アームあたりの検査スピードは最速ではないでしょうか。 初代2アームタイプのフライングプローブテスタ1115をHIOKIが発売してから10年、両面検査装置は飛躍的なスピードアップを実現し、FA1116に迫る検査時間( R+C 検査)を達成しています。 このような両面検査機で「FA1116を超える」確実で安価な方法は「自動化による無人化」です。 片面吸着タイプの課題は、人の作業工数が必要なところではないでしょうか。 両面機、特にFA1283は水平搬送を採用しているため、ジグ検査で使われるような汎用の周辺装置と接続できます。 「安価に」自動化を構築し最高のパフォーマンスを発揮できれば、FA1116の検査に対する自由度とどちらを選ぶか悩むことになるでしょう。

静電容量測定で、絶縁抵抗値が保証できるのか?

正確な数値換算は難しいので、答えは「できない」となります。 フライングプローブテスタの静電容量式絶縁検査は抵抗による絶縁抵抗検査よりも圧倒的な検査時間の短縮を実現できることが最大のメリットとなります。 静電容量の値によって、導通・非導通を保証していますので、基板を使うお客様に誤解を与えないようにすることも大切です。 当然ながら抵抗値としての保証はできないので、静電容量(F)の数値保証(トレーサビリティ)ができる検査機をおすすめします。

ガーバ編集は FEB-LINE UA1781

データ作成システム UA1781はHIOKIオリジナルのガーバ編集ソフト フライングデータの作成に必要な検査ノウハウと、既存の編集ソフトでは面倒なキャビティデータや、塗りデータのネット接続処理など独自の機能を搭載したFLY-LINEの後継ソフトです。

FEB-LINE 検査データ作成システム  UA1781

不良ネットの探索は FAIL VIEWER UA1782

測定結果から、不良ネットの表示や不良箇所の探索を行うビューワソフト

FAIL VIEWER UA1782

「つながる力」ATE製品紹介

HIOKIのATEというカテゴリは「自動検査装置」の頭文字から命名させていただきました。 (Automatic Test Equipments) HIOKIはベアボードの検査から実装基板の検査まで、プリント板検査の最初から最後までを「つなぐ」ラインナップをご用意しています。 そして、電気検査にこだわり続けることで、お客様とつながり続け、共に未来を創り続けていきたいと考えています。

仕様

概略仕様 

アーム数4 (上面2, 下面2)
取付可能プローブ1172シリーズ
検査ステップ数最大900,000ステップ
検査項目・測定範囲抵抗測定:40.00 μΩ〜100.0 MΩ
容量測定:10.00 fF〜40.00 mF
インダクタンス測定:10.00 μH〜100.0 mH
ダイオードVZ測定:0.000 V〜25.00 V
絶縁測定:200.0 Ω〜100.0 GΩ
コンデンサ絶縁測定:200.0 Ω〜10.00 MΩ
高電圧抵抗測定:200.0 Ω〜25.00 GΩ
高電圧ショート測定:400.0 mΩ〜400.0 kΩ
漏れ電流測定:100.0 nA〜10.00 mA
ツェナーダイオードVZ測定:0.000 V〜25.00 V
デジタルトランジスタ測定:0.000 V〜25.00 V
フォトカプラ測定:0.000 V〜25.00 V
導通検査:400 mΩ〜1.000 kΩ
オープン測定:4.000 Ω〜4.000 MΩ
ショート測定:400.0 mΩ〜40.00 kΩ
直流電圧測定:40.00 mV〜25.00 V
判定範囲-99.9%〜+999.9%, または絶対値
総合プロービング精度□20 μm / □15 μm(FA1971-01使用時)
測定スピードMax. 100 points/s (0.1 mm移動・2アーム同時プロービング, 容量測定時)
検査可能基板厚さ: 0.1〜2.5 mm, 外形: 50W × 50D〜400W × 330D mm
最大検査可能エリア400W × 324D mm
基板固定基板2辺チャック方式 (テンション機構付き)
電源AC200 V, 220 V, 230 V, 240 V単相 (発注時指定) 50/60 Hz, 5 kVA
寸法・質量1360W × 1200H × 1280D mm (突起物除く), 1100 kg

価格

形名(発注コード) 説明 価格 HIOKI Online Store
FA1283-01 搬送なし お見積り
FA1283-11 搬送あり お見積り

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データ解析ソフト UA1801

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・AIで潜在不良を検出 ・潜在不良の原因となりうる「特異点」を検出 ・高精度計測技術を活かしたデータ解析

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・編集、検査点生成、部品内蔵対応の「3-in-1」 ・Windows専用の新アルゴリズム ・データ数制限が無くなって、自由度アップ ・新コマンドの追加で、作成工数を半分に削減

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・HIOKI電気検査装置,データ作成システム専用ビューワソフト

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1281データ作成ソフト 1139-09

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