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IEC/EN62233適合試験向け、3軸の磁束密度測定で強力サポート
JIS C 1910では校正を行いトレーサビリティのとれた測定器で測定することを推奨しています。HIOKIではNIST（アメリカ国立標準技術研究所）のトレーサビリティがとれた校正設備を保有しているため、国内で校正を行う事が可能です。ご希望により、磁界測定器のご購入時・ご購入時以降の校正の際には、検査成績表・校正証明書・トレーサビリティ対系図を有料にて発行することができます。校正については最寄りのHIOKI営業所へご相談ください。
電流が流れている物の周りに発生する空間を「磁界」といいます。磁界には方向があり、方向によって測定値が異なることがあるため、３軸全ての測定が必要です。FT3470-50シリーズは３軸同時測定を行い合成値（R）で値を求めるため正確な測定が可能です。
T（テスラ）、A／m（アンペア毎メートル）、G（ガウス）のように、規格や規制によって異なる磁束密度の単位に対応して表示することができます。
レコーダやロガーに接続して、磁束密度の実効値を記録できます。長期的な観測に便利です。出力レートは0.1 mV／表示値（磁束密度単位Tを基準）
オシロスコープやメモリハイコーダに接続して、磁界の波形を観測できます。出力レートは0.1 mV／表示値（磁束密度単位Tを基準）
