フライングプローブテスタ
FA1240-6x

電気検査で実装の正しさを証明する, 「つくる」「はかる」「みる」実装基板検査システム

● 操作はワークフローに沿って進めるだけ、部品高さも考慮されたプログラムが短時間で完成 ● アーム干渉自動演算 (UA1780との併用) ● ショット数10倍の高耐摩耗プローブもラインナップ、専用工具レスで交換も簡単 ● 電気部品の疑似接触検出、工程の検出率アップを実現 ● 複合部品の分離検査とガーディング ● 部品に優しい0.2V以下の電圧で測定 CE対応機種:FA1241-61

電気検査で実装の正しさを証明する

電気検査の測定結果には、測定値が必ず含まれています。  電気的な特性という見えないものを見える化し、設計どおりの状態であることを確認し、数値として出荷状態を保証します。 実装基板検査の現場にはハンディのテスタ(DMM)が必ず用意されているはずです。フライングプローブテスタは定数が記載されていないチップの値を測定するだけでなく、コンタクトの難しい微少なポイントに簡単に当たり、ICリードの半田接続状態や、BGAの複雑なピン間チェックなど「見えない箇所の検査」も自動で行います。 製造現場で正しく実装された基板であることを証明するのが電気検査装置であり、低コストで少ない工数で電気検査を行うのがフライングプローブテスタです。

電池モジュールの検査を「高速」「高精度」「フィクスチャレス」で

フライング4端子プローブで、電池モジュールの検査を「高速」「高精度」「フィクスチャレス」で行うことができます。

リードの足浮きと疑似接触の違いを明確にする

基板製造工程の各種検査をすり抜けて市場に出てしまう可能性が高い不良がリードの疑似接触不良です。 リードの浮きは、実動試験やファンクション検査または現在の画像検査技術であればほぼ確実にピックアップが可能になってきています。 そのため、外観では見つけにくい疑似接触状態を検出するのが、HIOKI独自の抵抗測定式疑似接触検査なのです。 リードとフィレット間の抵抗を4端子測定方式(ケルビン方式)を用いて正確に測定し、半田が正常に上がっているときとの抵抗値の違いを明確にします。

ガーバーデータにこだわる検査ポイント至上主義

簡単にデータが作成できる ≠ 簡単に検査ができる というのは半分は正しく、半分は間違いです。 ディスクリート時代ならイコールで構いませんが、FA1240が求めた検査データの作成は「簡単に-正確な-検査データが作成できる」ことです。 検査機が動くデータと、出荷できる検査データの差異が最小にすることで、(デバッグなどによる)生産ラインの停止時間を最小限に抑え、安心して製品を出荷することが可能になります。 「使える」検査データを「すばやく」作ることにこだわった結果、ガーバーデータとマウントデータからのデータ作成になりました。

検査データ作成ソフト FIT-LINE UA1780

データ作成時間1/10, ライン停止時間1/15

UA1780ソフト(オプション)と一緒に使用することで手戻りが少なく、短時間でハイクオリティーな検査プログラムを作成することが可能です。 「フライングプローブテスタはデータ作成が大変」と思っている方こそ、最新のデータ作成システムをベンチマークで体験してください。

ワークフロー採用の簡単インタフェース

ワークフローに沿って進めるだけで検査データが完成するワンルートシステム。 普段のデータ作成が簡単になるだけでなく、業務の引き継ぎでも見ているだけで把握できる単純システムです。

部品に干渉しない自動プロービング

プローブの先端を覗き込んで「当たる?、当たらない?」の確認作業をしていませんか? このプローブの選択作業を無くすことで、作業者のデバッグ工数を激減させることができました。。 FA1240では部品単位で高さと実装サイズを付加、これらの情報を元に検査プローブを自動で選択します(使えないプローブの選択も可能)。安心して電気検査のデバッグに取りかかることができます。

超硬プローブは時間とコストと基板ダメージまで減らす

新型超硬プローブにより300万回のコンタクトでも先端の摩耗がありません。 プローブの交換作業が減り、微少なポイントへのコンタクト性能が時間的にも向上します。  先端の摩耗はプローブの滑りの主因となり、ワンパス率の低下だけでなく最悪の場合は基板へダメージを与えることになります。 プローブの品質は検査装置の性能を評価する重要な項目になります。

「つくる、はかる、みる」実装基板電気検査システムを体験

お客様の基板を使って最新検査システムを是非体感してください。 「つくる」検査データ作成システム UA1780 「はかる」フライングプローブテスタ FA1240 「 みる 」FAIL VIEWER UA1782 実装基板の検査は正確なデータを作成し、正確に計り、正確に不良箇所を特定することが大切です。 [カタログ資料あり]

仕様

概略仕様 

FA1240-61
FA1241-61
FA1240-63
アーム数4アーム (L, ML, MR, R)
検査ステップ数40,000ステップ (最大)
測定範囲抵抗:400μΩ〜40MΩ
コンデンサ:1pF〜400mF
インダクタンス:1μH〜100H
ダイオードVZ測定:0〜25V
ツェナーダイオードVZ測定:0〜25V, 25〜80V (オプション)
デジタルトランジスタ:0〜25V
フォトカプラ:0〜25V
ショート:0.4Ω〜400kΩ
オープン:4Ω〜40MΩ
直流電圧測定:0〜25V
ファンクション機能用電圧測定:±40V (オプション)
リレーオン抵抗測定:40m〜40Ω (オプション)
FETオン抵抗測定:400m〜400Ω (オプション)
簡易ファンクション測定:±25V (オプション)
測定スピード0.025s/step〜0.025s/step〜
プロ−ビング精度各アーム±100 μm以内 (X-Y各方向)
移動反復精度±50 μm以内 (プロービング位置)
最小プロービングピッチ0.15 mm
(4端子プローブ時0.5 mm)
0.15 mm
(4端子プローブ時0.5 mm)
検査可能サイズ510W × 460D mm400W × 330D mm
電源AC200 V (単相) 50/60 Hz,
6 kVA(FA1241はAC230 V)
AC200 V (単相) 50/60 Hz,
5 kVA
寸法・質量1406W × 1300H × 1380D mm, 1150 kg1266W × 1369H × 1425D mm, 1050 kg

価格

形名(発注コード) 説明 価格 HIOKI Online Store
FA1240-61 大型基板対応 価格お見積り
FA1240-63 Mラック基板対応 価格お見積り
FA1241-61 CE対応, 大型基板対応 価格お見積り

オプション

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FIT-LINE検査データ作成システム UA1780

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・治具レス・インサーキットテスタ用 ・ガーバーデータとマウントデータからデータ作成 ・部品情報を参照しながらデータ作成

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