耐圧試験における
部分放電の観測
耐圧試験時の電流と電圧の波形を観測することで部分放電を捕捉できます。
部分放電の発生は絶縁破壊につながる可能性があります。
部分放電を確認することで、コイルの潜在不良を把握する事ができます。
計測イメージ
使用機器
メモリハイコーダMR6000
・サンプリングスピード:200MS/s
・ストレージ時間:2.5秒
・カップリング方式:ACカップリング
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電流プローブCT6711
・使用レンジ:0.5A
出力レート:10V/A
周波数帯域:DC〜120MHz
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